設為主頁 加入收藏 English
 
 
 
 
  · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產品簡介:     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測
詳細信息
   
 
首頁 上一頁 下一頁 尾頁 共1記錄,當前1/1頁 每頁6條 跳轉: 
 
 
上海市普陀區嵐皋路567號1108-26室 電話:021-62665073 400-718-7758 傳真:021-62761957
美國布魯克海文儀器公司 版權所有  管理登陸 備案號:滬ICP備19006074號-1 技術支持:化工儀器網
黔友贵州麻将 浙江快乐12走势图下载 百度理财亏本金案例 理财计算器 安徽快3开奖结果今天怏3 山东省十一选五走势图 上海快3最牛走势图 北京快乐8开奖记录 十一运夺金走势图彩经网 体育彩票11选5开奖北京 内蒙古11选5走势