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  · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產品簡介:     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測
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  · 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
產品簡介:     90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前唯一能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術,比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍! 詳細說明:     NanoBrook產品系列   項目
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  · Zeta電位及粒度分析儀
簡單介紹:     ZetaPlus是簡單、方便而且準確的電泳遷移率測量儀器,其獨特的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合,使其具有極高的分辨率,足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響,從而使測量變得準確而方便。 詳細說明:     NanoBrook產品系
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